NanoPlus系列納米粒度與Zeta電位分析儀
2018-05-17打印閱讀次數：1314返回 70mW激光光源提供高清分析，可檢測混合物中的小體積聚集體。
多點測量掃描，用于測試等電點、配方穩定性和膠體系統的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預測和量化產品的穩定性。
通過單次測試即可在整個動態范圍內獲取更多的樣品信息，節省時間。
多點測量掃描，用于測試等電點、配方穩定性和膠體系統的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預測和量化產品的穩定性。
通過單次測試即可在整個動態范圍內獲取更多的樣品信息，節省時間。
深入研究獲取的數據，可提高產率，優化流程，開發潛能。
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保護數據的完整性、確保重復性和精確度，獲得高可信度的結果
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納米粒度、分子量和Zeta電位動態光散射分析儀
NanNanoPlus系列儀器具備卓越的性能和靈敏度，設計緊湊，配備直觀的操作控制軟件，廣泛適用于各種材料測試，是測試粒度分布與Zeta電位的理想產品。
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新一代Zeta電位和粒度分析儀
新一代NanoPlus HD，配備70mW激光器，具有更高的精度、更廣的溫度控制范圍和更高的效率。是一個獨特的DLS和ELS系統：
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