SediGraph III PLUS全自動X光沉降粒度分析儀
2018-05-17打印閱讀次數：1376返回 SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
久經考驗的技術和可靠性
在過去的四十多年中，美國麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑借其卓越的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。
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智能設計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性極高的結果。
? 高精度X光管終身保修（7年）
? 簡化泵系統，確保快速分析和易于維護
? 降低噪聲，提供更加安靜的工作環境
? 維護提醒裝置，根據總測試量，提示用戶進行定期維護
? 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性
? Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作
? 多功能和交互式報告系統，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）
多項功能
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